工業(yè)產(chǎn)品高低溫測試
2023-05-04 15:47:29
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產(chǎn)品高低溫測試的時間有長有短,有的一次試驗可能要進(jìn)行好幾年,有的可能在一天內(nèi)就結(jié)束。高低溫測試的時間主要看用戶那邊的需求,所以小編這也說不準(zhǔn)高低溫測試需要進(jìn)行多長時間。為了保證大家能更好的使用高低溫測試箱,小編把自己所了解的專門總結(jié)了一下。
高低溫測試要多長時間主要看被檢測的樣品主要應(yīng)用于哪個行業(yè)、使用時的環(huán)境差不多就能判斷出檢測所需的溫度。然后在了解一下行業(yè)需要滿足的標(biāo)準(zhǔn),其中會規(guī)定樣品在高溫環(huán)境、低溫環(huán)境下各自儲存的時間,再加上高低溫循環(huán)次數(shù)以及高低溫測試箱升降溫所需的時間,差不多就能計算出一次高低溫測試所需的總時長是多少。
高低溫箱具有較寬的溫度控制范圍,其性能指標(biāo)均達(dá)到國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T10592高低溫試驗箱技術(shù)條件,適用于按GB/T2423.1、2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗A:低溫試驗方法,試驗B:高溫試驗方法》對產(chǎn)品進(jìn)行低溫及高溫試驗。適用于電工電子產(chǎn)品(包括元件、設(shè)備及其它產(chǎn)品)的高低溫度 ;
高溫試驗詳細(xì)介紹:本試驗是用來確定產(chǎn)品在高溫氣候環(huán)境條件下儲存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗的嚴(yán)苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續(xù)時間。參考的測試標(biāo)準(zhǔn):GB/T 2423.2,IEC 60068-2-2,IEIA 364, MIL-STD-810F等。 低溫試驗介紹:本試驗是用來確定產(chǎn)品在低溫氣候環(huán)境條件下儲存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗的嚴(yán)苛程度取決于低溫的溫度和曝露持續(xù)時間。參考的測試標(biāo)準(zhǔn):GB/T 2423.1,IEC 60068-2-1,EIA 364, MIL-STD-810F等。
溫度沖擊試驗介紹:本試驗是確定產(chǎn)品在溫度急劇變化的氣候環(huán)境下儲存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗的嚴(yán)苛程度取決于高/低溫、駐留時間、循環(huán)數(shù)。參考的測試標(biāo)準(zhǔn):IEC60068-2-14,GB2423.22,GJB150.5等 TTS(GDW-010)實(shí)驗室提供多臺不同尺寸的常規(guī)恒溫恒濕箱與步入式恒溫恒濕箱,根據(jù)不同類型的產(chǎn)品,提供測試服務(wù)。
設(shè)備的用途
該設(shè)備主要是針對于電工、電子產(chǎn)品,以及其原器件,及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時的適應(yīng)性試驗。
該試驗設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照國家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求,在低溫、高溫、條件下,對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試,測試后,通過檢測,來判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便供產(chǎn)品設(shè)計、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗用。
高溫環(huán)境對設(shè)備的主要影響有:
a. 填充物和密封條軟化或融化;
b. 潤滑劑粘度降低,揮發(fā)加快,潤滑作用減小;
c. 電子電路穩(wěn)定性下降,絕緣損壞;
d. 加速高分子材料和絕緣材料老化,包括氧化、開裂、化學(xué)反應(yīng)等;
e. 材料膨脹造成機(jī)械應(yīng)力增大或磨損增大。
高溫測試目的:用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存能力。
高低溫測試方法:
非散熱試驗樣品低溫試驗:溫度漸變
散熱試驗樣品低溫試驗:溫度漸變;試驗樣品在整個試驗過程通電。